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TEMP 2000A, 便攜式發(fā)射率測(cè)量?jī)x/反射率測(cè)量?jī)x
本產(chǎn)品的TEMP 2000A手持式發(fā)射測(cè)量?jī)x/反射率測(cè)量?jī)x計(jì)是作為2005年NASA技術(shù)文件第23頁(yè)中提到的老化Gier-Dunkle DB100的替代品。
TEMP 2000A便攜式發(fā)射率測(cè)量?jī)x/反射率測(cè)量?jī)x，緊湊，重量輕，堅(jiān)固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，易于在現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室中使用，以確定環(huán)境溫度總發(fā)射率。
實(shí)驗(yàn)室設(shè)置與樣品放置在儀器頂部。
TEMP 2000A可以方便地在實(shí)驗(yàn)室（上圖）中使用，其中樣品可以放在儀器頂部左邊，并在進(jìn)行重復(fù)測(cè)量時(shí)方便移動(dòng)。通過使用電池組和背帶，TEMP 2000A可以用作便攜式設(shè)備（下圖）。
便攜式使用測(cè)量混凝土制品
TEMP 2000A憑借*的光學(xué)系統(tǒng)提供了便攜式發(fā)射率測(cè)量?jī)x/反射率測(cè)量?jī)x，其測(cè)量從小于3至大于35微米波長(zhǎng)的總半球反射率，并且放置在光路中不會(huì)由于濾光器，窗口或涂層而受限制。 TEMP 2000A光學(xué)系統(tǒng)被設(shè)計(jì)為最小損耗，且促進(jìn)和保持光學(xué)準(zhǔn)直，并利用AZ技術(shù)獲得得橢圓收集器，達(dá)到更好的緊湊性和便攜性，獲得高效率和測(cè)量精度。 TEMP 2000A在不再生產(chǎn)的Gier Dunkle DB-100 IR反射計(jì)**的基礎(chǔ)上并根據(jù)ASTM E408標(biāo)準(zhǔn)改進(jìn)性能和可維護(hù)性。
下表列出了TEMP 2000A的技術(shù)參數(shù)。
波長(zhǎng) | 小于3um 到 大于35um (不受過濾器，窗口等的限制) |
測(cè)量精度（鏡面和漫射樣品） | - 灰度樣品：滿量程的±1％ |
重復(fù)性 | - 滿量程的±0.5％或更好 |
樣品類型 | 任何樣品，包括箔，絕緣體等 |
樣本大小和幾何形狀 | - 平坦表面：直徑≥0.4英寸（1厘米） |
樣品溫度 | 室溫環(huán)境 |
顯示屬性 | - 紅外反射率 |
讀數(shù) | - 數(shù)字液晶面板儀表 |
測(cè)量范圍（反射率） | 0.00 to 1.00 |
尺寸 | - 光學(xué)頭：5.25（英寸）直徑×6.8（英寸）長(zhǎng) |
重量 | - 光學(xué)頭：5磅 |
